產品名稱：二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡
產品型號：
更新時間：2025-03-07
產品特點：二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。
產品詳細資料：
M-IT200是一款更簡潔、更易于使用的掃描電子顯微鏡。
使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，Live Analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等，使它成為一個分析業(yè)務的軟件。
立即觀察！立即分析！立即報告！
二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡詳細介紹
和機型具有相同的功能，更簡練易用。
■主窗口 ーZeromag觀察ー 使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學CCD 圖像*1，能尋找視野和分析
位置。
■ 顯示譜圖和顯示元素 ー Live Analysis 分析 *2ー 通過顯示譜圖和顯示元素，能確認正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。
■ 數(shù)據(jù)管理圖標 ー SMILE VIEWTM Lab 數(shù)據(jù)集中管理 ー 點擊數(shù)據(jù)管理圖標并顯示數(shù)據(jù)管理窗口后，從SEM 圖像到分析，對全部數(shù)據(jù) 能創(chuàng)建批量報告、查看數(shù)據(jù)。并重新分析數(shù)據(jù)。
*1 拍攝CCD 圖像，需要SNS(選配件) *2 適合(A)Analysis /(LA)Low Vacuum & Analysis 配置
Ze romag功能將與樣品臺位置關聯(lián)的樣品架示意圖、CCD圖像*(光學圖像)和 SEM 圖像
實現(xiàn)了聯(lián)動。可以直觀地尋找分析區(qū)域，只需放大光學圖像就可以過渡到 SEM 圖像，因 只需放大光學圖像，就可以過渡到SEM圖像! 而能防止弄錯觀察目標和樣品。
二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡售后服務保障
1、零配件庫存充足，對業(yè)務所及的儀器90%常見的故障準備了庫存配件，同時和廠家保持良好的合作的關系，零配件有充分的保障。
2、我們全力打造“快而靈活"的專業(yè)服務。到目前為止所有現(xiàn)場服務需求，我們都能夠4小時內線上響應， 48小時內到達現(xiàn)場。
3、利用現(xiàn)代信息技術，我們?yōu)槊恳晃豢蛻籼峁┗ヂ?lián)網在線支持，遠程快速診斷及排除故障，大大縮短儀器停機時間，提高客戶的工作效率。對路途遠及初期客戶對儀器不熟悉是一個特別有力的支持。
4、不斷完善的服務體系。每一次服務都能做到規(guī)范化，可跟蹤及持續(xù)性，符合各行業(yè)的法規(guī)要求。
5、專業(yè)的服務團隊，工程師均是原廠工程師或經原廠工程師專業(yè)培訓過的，通過考核后方可上崗為客戶提供服務。
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