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二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具,能夠?qū)崿F(xiàn)對樣品表面形貌的高分辨率觀察,為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個領(lǐng)域的研究提供了強大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍,能夠滿足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡,蔡司SUPRA 40VP場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等,獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息
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二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSD SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,擁有第三代GEMINI 鏡筒,可變壓強性能加上多種納米工具的使用,不用花費大量時間,使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能,超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制,納米技術(shù)等。
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二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率:高真空二次電子像小于3.0nm(30KV) 掃描電鏡放大倍數(shù):5×~1000000×,連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率:MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV; 能譜儀元素測試范圍:Be4— Pu94
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二手 JSM-IT300經(jīng)過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng),不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。
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二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌,分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像,成像信號可以是二次電子,背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子,通過信號收集和信號轉(zhuǎn)換到達屏幕,可以看到樣品表面的同步掃描照片,實現(xiàn)對樣品表面的形貌的觀察。
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二手日本電子(SEM)IT-300提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對 W-SEM 機型的期待,鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有所提高
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二手蔡司場發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產(chǎn)品配備有經(jīng)過改進的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內(nèi)二次電子探測器。SUPRA™系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導(dǎo)體事業(yè)部的納米技術(shù)系統(tǒng)部向市場推出的功能最多的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當(dāng)前儀器所具有的所有特征:如在圖像質(zhì)量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。
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二手日立+日本電子掃描電鏡掃描電子顯微鏡SEM是一種電子顯微鏡,它通過用聚焦電子束掃描表面來產(chǎn)生樣品的圖像。電子與樣品中的原子相互作用,產(chǎn)生包含樣品表面形貌和成分信息的各種信號。電子束的掃描路徑形如光柵,將電子束的位置與檢測信號的強度相結(jié)合即可輸出圖像。在最常見的SEM模式下,探測器可以檢測到由電子束轟擊原子所激發(fā)的二次電子。不考慮其它因素,可以檢測到的二次電子數(shù)以及信號強度取決于樣品形貌。
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