

銷售電話:
銷售傳真:13723416768
公司郵箱:[email protected]
辦公地址:深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道南昌社區(qū)深圳前灣硬科技產(chǎn)業(yè)園B棟608-609
-
二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進(jìn)后的電子光學(xué)系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時,SE圖像可達(dá)7nm,5KV電壓時,BSE圖像可達(dá)10nm。最新開發(fā)的自動多級電子槍偏壓機(jī)構(gòu)能夠在不降低電子束大小的情況下,在一定范圍內(nèi)的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此,此款產(chǎn)品與S-3400N相比,噪音得以大幅減少,成像更加清晰。
查看詳細(xì)介紹 -
二手日立電鏡SU-3500日立高新高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質(zhì)量更進(jìn)一步。通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立*進(jìn)科技“。日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現(xiàn)了3kV加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器。
查看詳細(xì)介紹 -
二手日本電子JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。 使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,Live Analysis*²可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果,SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等,使它成為一個分析業(yè)務(wù)的軟件。
查看詳細(xì)介紹 -
二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng),不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,還能利用觸控屏和快速樣品臺進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對W-SEM機(jī)型的期待,新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。
查看詳細(xì)介紹 -
二手蔡司場發(fā)射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,擁有第三代GEMINI 鏡筒,可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用,不用花費(fèi)大量時間,使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能,超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制,納米技術(shù)等。
查看詳細(xì)介紹 -
二手電鏡 二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌,分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描成像,成像信號可以是二次電子,背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子,通過信號收集和信號轉(zhuǎn)換到達(dá)屏幕,可以看到樣品表面的同步掃描照片,實現(xiàn)對樣品表面的形貌的觀察。
查看詳細(xì)介紹 -
二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產(chǎn)品均可滿足工業(yè)工藝控制實驗室、材料科學(xué)實驗室和生命科學(xué)實驗室的多種樣本和成像要求。
查看詳細(xì)介紹 -
二手電鏡 二手日本電子JSM-IT300日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。
查看詳細(xì)介紹 -
二手日立噴金儀掃描電子顯微鏡 (sem) 是一種多功能的工具,在大部分時候,無需什么樣品制備,即可提供各種樣品的納米級信息。而在某些情況下,為了獲得更好的sem圖像,會推薦或甚至有必要結(jié)合噴金儀(離子濺射儀)使用sem。在這篇博客中,我們將解釋噴金儀是如何工作的,以及適用的樣品類
查看詳細(xì)介紹 -
供應(yīng)日立(二手)場發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發(fā)射掃描電鏡,主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息,可在高真空下實現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式(浸沒式和無場式)。配備紅外CCD檢測相機(jī),極靴內(nèi)二次電子檢測器,通用ET二次電子檢測器,低真空二次電子檢測
查看詳細(xì)介紹